产品介绍:
基于Phasics的专利技术,SID4UV-HR波前传感器在190nm至400nm的紫外光谱中提供无与伦比的高分辨率(355x280个测量点)和非常高的灵敏度(1nmRMS)。因此,SID4UV-HR完美适用于光学元件表征(用于光刻、半导体……)和表面检测(透镜和晶圆……)。
产品特点:
灵敏度低至190nm
高灵敏度–1nmRMS
超高分辨率(355x280采样)
产品参数:
波长范围:190-400纳米
孔径尺寸:13.8x10.88平方毫米
空间分辨率:38.88微米
相位和强度采样:355×280
分辨率(相位):1纳米有效值
准确度(绝对):10纳米有效值
获取率:30帧/秒
实时处理频率*:>3fps(全分辨率)*
界面:相机链接
尺寸(WxHxL):51x51.1x76毫米³
重量:~300克
法国Phasics SID4-HR
产品介绍:
SID4-HR为最苛刻的波前测量应用带来了超高相位采样(400x300)和高动态范围(500µmPV)。其大孔径和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散光束而无需中继光学器件。
产品特点:
超高分辨率(400x300相位像素)
大分析瞳孔:11.8x8.9mm²
直接测量高达0.8的高NA光束
产品参数:
波长范围:400-1100 纳米
孔径尺寸:11.84 x 8.88 平方毫米
空间分辨率:29.6 微米
相位和强度采样:400×300
分辨率(相位):2 纳米有效值
准确性:15 纳米有效值
获取率:10 帧/秒
实时处理频率*:3 fps(全分辨率)
界面:千兆以太网
尺寸 (WxHxL):54 x 46 x 79 毫米³
重量:~250 克
法国Phasics Kaleo 套件
产品介绍:
KaleoKit是用于光学鉴定的模块化系统。它结合了广泛的兼容模块,让您可以创建一个经济高效、紧凑且易于使用的系统,该系统可以适应各种测量配置,并在所有开发阶段确保您的样品质量。一次采集即可访问样品的所有特征:TWE、RWE、波前像差、MTF、PSF等等!
产品特点:
通用性:从紫外到红外,模块兼容独立使用
强大的独特技术:高分辨率、大动态范围、纳米级灵敏度
易于使用:紧凑且易于对齐
产品参数:
1-选择您的波前传感器:SID4UV/SID4/SID4-HR/SID4-SWIR/SID4SWIR-HR/SID4DWIR
2-选择您的R-Cube波长(nm)*:365/405/530/625/740/780/810/850/940/1050/1550/3900
3.1-使用聚焦系统(F#)塑造光束*:0.6/1/1.6/2.5/5/10
3.2-使用扩束器塑造光束–出瞳直径(mm)*:8/15/30/60/130
+参考镜:平面或球体
法国Phasics SID4-UHR
产品介绍:
SID4-UHR超高分辨率波前传感器适用于光学计量需求。它结合了SID4的易于实施与高采样和分辨率。它的大孔径允许对整个被测样品进行实时波前测量。SID4-UHR针对表面检测(粗糙度、高频缺陷检测...)和光学元件表征(透镜、物镜、非球面和自由曲面光学...)进行了优化。它采用高性能相机构建,为激光表征提供了令人难以置信的精度。具有如此紧凑性的512x512(选件666x666)相位图采样使SID4-UHR成为研究和工业领域的光学和激光计量的独特工具。
产品特点:
非常高分辨率
大分析瞳孔:15.16x15.16mm²
消色差
产品参数:
波长范围:400-1100 纳米
孔径尺寸:15.16 x 15.16 平方毫米
空间分辨率:29.6 µm(选项 22.2 µm)
相位和强度采样:512 x 512(选项 666 x 666)
分辨率(相位):2 纳米有效值
准确性:15 纳米有效值
获取率:8 帧/秒
实时处理频率*:1 fps(全分辨率)
界面:千兆以太网
尺寸 (WxHxL):60 x 60 x 70 毫米³
重量:~450 克
产品介绍:
KaleoMTF仪器非常适合在设计、原型制作或生产阶段测量透镜组。它提供最完整的镜头表征:多波长的轴上和离轴MTF、辐射测量和波前误差。即使在高CRA和FOV下,KaleoMTF测量精度也保持不变。
产品特点:
兼容大FOV(高达+/-90°)和CRA(高达50°)镜头
单次MTF和WFE测量
上下轴无限到有限配置
产品参数:
MTF同轴:准确度<1%*-重复性<0.5%*
MTF离轴:准确度<2%**-重复性<1%**
MTF最大频率:1000磅/毫米
失真:准确度<0.5%-重复性<0.05%
OPD(同轴):精度<20nmRMS-重复性<5nmRMS
法国Phasics SID4-SWIR-HR
产品介绍:
SID4-SWIR-HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器集成在一起。由于其超高空间分辨率(160x128相位像素)和高灵敏度,它可以提供从900nm到1.7µm的精确波前测量。SID4-SWIR-HR是一种创新的解决方案,用于测试用于光通信、检查仪器或军事和监视设备中的夜视仪的SWIR光学系统。
产品特点:
扩展光谱范围从0.9到1.7µm
超高分辨率–160x128相位像素
高灵敏度——与低能量红外源兼容
产品特点:
波长范围:0.9-1.7微米
孔径尺寸:9.60x7.68平方毫米
空间分辨率:60微米
相位和强度采样:160×128
分辨率(相位):<2纳米RMS
准确度(绝对):15纳米有效值
获取率:30帧/秒
实时处理频率*:7fps(全分辨率)*
界面:千兆以太网
尺寸(WxHxL):55x63x100毫米³
重量:~500克
法国Phasics Kaleo MultiWAVE
产品介绍:
Phasics正在通过一种能够测量透射和反射波前误差(TWE/RWE)的新仪器在光学计量方面进行创新。镀膜和未镀膜的光学元件在其工作波长下可以超过5.1英寸(130毫米)的直径。KaleoMultiWAVE是购买多个干涉仪的有利替代方案且具有成本效益的解决方案。该系统提供的测量精度可与Fizeau干涉测量法相媲美。
产品特点:
按需提供任何波长:UV-VISIBLE-NIR-SWIR-MWIR-LWIR
同一个测试台上的多个波长
纳米相位分辨率和大动态(>500条纹)
产品参数:
配置:双通
测量能力:反射面的测量能力RWE透明光学元件的TWE
每台仪器的波长数:1或2(标准),最多8(定制)
自定义波长:从193nm到14μm的任何波长,包括:UV:266、355、405nm可见光/近红外:550、625、780、940、1050nm短波红外/中波红外/长波红外:1.55、2.0、3.39、10.6µm
清晰光圈:5.1英寸(130毫米)
光束高度:108毫米
对准系统:对准系统实时相位和泽尼克系数显示
极化:与消偏光学兼容
对准视场:+/-2°
瞳孔对焦范围:+/-2.5米
尺寸/重量:910x600x260毫米³,25公斤
隔振:不必要
产品介绍:
SID4-eSWIR波前传感器将Phasics的专利技术与T2SL探测器集成在一起,是唯一一款涵盖0.9至2.35µm扩展SWIR范围的高分辨率波前传感器。SID4-eSWIR是一种创新的解决方案,用于测试用于光通信、检查仪器或军事和监视设备中的夜视仪的SWIR光源和镜头。
产品特点:
扩展光谱范围从0.9到2.35µm
高分辨率–80x64相位像素
紧凑且自参考,便于设置
产品参数:
波长范围:0.9-2.35微米
孔径尺寸:9.60x7.68平方毫米
空间分辨率:120微米
相位和强度采样:80×64
分辨率(相位):<6纳米RMS*
准确度(绝对):<40纳米RMS*
实时处理频率:10赫兹(全分辨率)
界面:USB2.0
尺寸(WxHxL):90x115x120毫米³
重量:~1.8公斤
法国Phasics SID4-DWIR
产品介绍:
SID4-DWIR是第一款现成的高分辨率波前传感器,适用于3至5µm和8至14µm的双波段红外。它非常适合表征IR光学器件、黑体源、3.39µm或10.6µm激光束和系统。
产品特点:
高分辨率–160x120相位像素
具有相同传感器的MWIR和LWIR波段
无中继透镜的高数值孔径测量
产品参数:
波长范围:3-5µm和8-14µm
孔径尺寸:10.88x8.16平方毫米
空间分辨率:68微米
相位和强度采样:160×120
分辨率(相位):25纳米有效值
准确度(绝对):75纳米有效值
获取率:50帧/秒
实时处理频率*:>10fps(全分辨率)*
界面:千兆以太网
尺寸(WxHxL):85x118x193毫米³
重量:~1.6公斤
法国Phasics SID4-sC8
产品介绍:
SID4-sC8专为生命科学和材料检测定量相位成像应用而设计,在紧凑的即插即用解决方案中提供快速、准确和真正的定量相位测量。生物学家将受益于无标记细胞成像、高灵敏度和自动分割,而材料科学家将获得准确的折射率测量、激光损伤分析和表面表征。
产品特点:
亚纳米OPD灵敏度
单次相位和强度测量
兼容采集软件:Metamorph、Micromanager、NIS-Elements...
产品参数:
传感器技术:sCMOS
波长范围:400-1050纳米
孔径尺寸:16.61x14.04平方毫米
空间分辨率:19.5微米
相位和强度采样:852x720
分辨率(相位):<1纳米RMS
获取率:40帧/秒
实时处理频率:高达10Hz(全分辨率)
显微镜接口:C-mount
电脑接口:USB3.0
尺寸(WxHxL):82x89x145毫米³
重量:~1100克
法国Phasics SID4-V
产品介绍:
SID4-V是市场上第一款现成的真空兼容波前传感器,为高能激光设施中的自适应光学开辟了新的视野。在实际实验条件下原位测量波前,表征压缩机容器内的激光束,并测量目标附近的气体射流和等离子体密度!借助Phasics的独特策略,现在可以将每个光学元件的像差校正到真空室内的目标位置。SID4-V还可用于在环境测试活动期间执行波前测量。
产品特点:
真空兼容性>10-6mbar
不受热和机械真空约束的影响
低释气
产品参数:
真空兼容性:>10-6毫巴
波长范围:400-1100纳米
孔径尺寸:4.73x3.55平方毫米
最大不适用*:0.2
空间分辨率:29.6微米
相位和强度采样:160×120
分辨率(相位):<2纳米RMS
准确性:10纳米有效值
获取率:60帧/秒
实时处理频率:7fps(全分辨率)
界面:千兆以太网
尺寸(WxHxL):54x46x75.3毫米³
重量:~250克
产品介绍:
R-Cube是一个附加组件,可使用Phasics的波前传感器轻松进行双程测量。它适用于反射镜和大透镜像差测量,并有助于校准光学测试系统或自适应光学中的小型望远镜。该照明单元只需插入波前传感器并提供非常高质量的准直光束。双通波前测量变得简单而准确。
产品特点:
从紫外到短波红外的超高质量准直光束生成
占地面积小,易于集成
可独立使用的波前传感器的单独插件
产品参数:
兼容性:SID4UV/SID4/SID4-HR/SID4-SWIR/SID4SWIR-HR/SID4-DWIR
光束直径:适配相关波前传感器瞳孔
光源波长*:365/405/530/625/740/780/810/850/940/1050/1550/3900纳米
双通参考镜质量:λ/20PV(632.8nm)
相位分辨率(噪声):<2纳米RMS
法国Phasics SID4-SWIR
产品介绍:
SID4-SWIR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器集成在一起。由于其高空间分辨率(80x64相位像素)和高灵敏度,它可以提供从900nm到1.7μm的精确波前测量。SID4-SWIR是一种创新的解决方案,用于测试用于光通信、检查仪器或军事和监视设备中的夜视仪的SWIR光学系统。
产品特点:
高分辨率–80x64相位像素
高灵敏度——与低能量红外源兼容
紧凑和自参考,易于设置
产品参数:
波长范围:0.9-1.7微米
孔径尺寸:9.60x7.68平方毫米
空间分辨率:120微米
相位和强度采样:80×64
分辨率(相位):<2纳米RMS
准确度(绝对):15纳米有效值
获取率:30帧/秒
实时处理频率*:7fps(全分辨率)*
界面:千兆以太网
尺寸(WxHxL):100x55x63毫米³
重量:~500克
法国Phasics SID4
产品介绍:
我们的入门级高分辨率波前传感器涵盖可见光和近红外范围,SID4是适用于任何激光或光学计量应用的完美多功能工具
产品特点:
高灵敏度-2nmRMS
400-1100nm无色度无校准
自参考-对振动不敏感且易于对齐
产品参数:
波长范围:400-1100纳米
孔径尺寸:4.73x3.55平方毫米
空间分辨率:29.6微米
相位和强度采样:160x120(>19000点)
分辨率(相位):<2纳米RMS
准确度(绝对):10纳米有效值
获取率:60帧/秒
实时处理频率*:>10fps(全分辨率)
界面:千兆以太网
尺寸(WxHxL):54x46x75.3毫米³
重量:~250克
法国Phasics SID4-LWIR
产品介绍:
SID4-LWIR将高分辨率波前传感带入长波红外区域(从8μm到14μm),用于CO2或OPO激光束计量,以及用于热成像、安全和安全视觉的红外组件和镜头的表征.
产品特点:
整个LWIR波段的消色差–从8到14µm
非制冷焦平面阵列技术
高分辨率:160x120相位像素
产品参数:
波长范围:8-14微米
孔径尺寸:16.00x12.00平方毫米
空间分辨率:100微米
相位和强度采样:160×120
分辨率(相位):25纳米有效值
准确度(绝对):75纳米有效值
获取率:24帧/秒
实时处理频率*:10fps(全分辨率)*
界面:千兆以太网
尺寸(WxHxL):90x96x110毫米³
重量:~850克
法国Phasics SID4-BIO
产品介绍:
SID4-Bio是一款用于定量相位成像的即插即用相机。它适用于任何光学显微镜,可以测量活细胞和更多透明样品的有价值的数值参数。
产品特点:
用于瞬时无伪影定量相位成像的独特技术
紧凑,即插即用
易于集成-坚固的设计
产品参数:
波长范围:400-1100nm(兼容白光源、激光...)
放大:10倍至200倍
孔径尺寸:11.84x8.88平方毫米
相位和强度采样:300×400
横向尺寸:取决于放大倍率-在相位图像x120上低至0.2μm
分辨率(相位):<1纳米RMS
获取率:10帧/秒
干质量分辨率:<0.5皮克
显微镜接口:C-mount
方面:54x46x79毫米³
界面:千兆以太网
重量:~250克
法国Phasics SID4-UV
产品介绍:
SID4-UV具有低至250nm的高分辨率波前传感,非常适合紫外光学测试、紫外激光表征(用于光刻或半导体应用)以及透镜和晶圆的表面检测。
产品特点:
超高分辨率–250×250采样
高灵敏度–2nmRMS
经济实惠的紫外波前测量解决方案
产品参数:
波长范围:250-400纳米
孔径尺寸:7.4x7.4平方毫米
空间分辨率:29.6微米
相位和强度采样:250×250
分辨率(相位):2纳米有效值
准确度(绝对):10纳米有效值
获取率:30帧/秒
实时处理频率*:>2fps(全分辨率)*
界面:千兆以太网
尺寸(WxHxL):78x88.1x71.1毫米³
重量:~575g
法国Phasics SID4 Element
产品介绍:
SID4Element将sCMOS相机与Phasics的QPI技术相结合,为生命科学提供最准确的定量相位图像。它的大视野适合大细胞群成像。该系统还可以轻松合并相位和荧光图像。
产品特点:
10μm相位像素:即使在低放大倍率下也能获得最佳空间分辨率
大视野,可随采集速度调节
无伪影和瞬时相位图像
产品参数:
波长范围:400-800纳米
视野:高达8.52x7.20毫米
图像尺寸(相位像素):高达852x720像素
横向分辨率(相位图像像素单元大小):10µm无放大
分辨率(相位):<2nmRMS最高0.1nm,平均
获取率:高达40Hz
显微镜接口:C-mount
电脑接口:USB3.0
法国Phasics 光学测试台
产品介绍:
具有挑战性的项目可能需要定制的波前计量解决方案。Phasics团队开发定制的光学测试台和机器,以满足客户的项目要求。Phasics由技术精湛的光学、机械、电气、软件工程师和博士组成的强大团队随时准备应对您最具挑战性的波前计量挑战。
产品特点:
按需提供任何波长:UV、可见光、NIR、SWIR、MWIR、LWIR
任何配置:单通道或双通道,轴上和离轴,无限到有限,有限到有限......
完整测量WFE、MTF、PSF...
产品参数:
波长范围:紫外-可见-近红外-短波红外-中波红外-长波红外
光束尺寸:几毫米到几百毫米
配置:单/双通-轴上/离轴-无限到有限-无限到无限-有限到无限
测量类型:MTF-WFE-与设计的比较
极化依赖性:不
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