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法国Phasics  Kaleo MTF

 

产品介绍：

 

KaleoMTF仪器非常适合在设计、原型制作或生产阶段测量透镜组。它提供最完整的镜头表征：多波长的轴上和离轴MTF、辐射测量和波前误差。即使在高CRA和FOV下，KaleoMTF测量精度也保持不变。

 

产品特点：

 

兼容大FOV（高达+/-90°）和CRA（高达50°）镜头

单次MTF和WFE测量

上下轴无限到有限配置

 

产品参数：

 

MTF同轴：准确度<1%*-重复性<0.5%*

MTF离轴：准确度<2%**-重复性<1%**

MTF最大频率：1000磅/毫米

失真：准确度<0.5%-重复性<0.05%

OPD（同轴）：精度<20nmRMS-重复性<5nmRMS

 

法国Phasics  SID4-SWIR-HR

 

产品介绍：

 

SID4-SWIR-HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器集成在一起。由于其超高空间分辨率（160x128相位像素）和高灵敏度，它可以提供从900nm到1.7µm的精确波前测量。SID4-SWIR-HR是一种创新的解决方案，用于测试用于光通信、检查仪器或军事和监视设备中的夜视仪的SWIR光学系统。

 

产品特点：

 

扩展光谱范围从0.9到1.7µm

超高分辨率–160x128相位像素

高灵敏度——与低能量红外源兼容

 

产品特点：

 

波长范围：0.9-1.7微米

孔径尺寸：9.60x7.68平方毫米

空间分辨率：60微米

相位和强度采样：160×128

分辨率（相位）：<2纳米RMS

准确度（绝对）：15纳米有效值

获取率：30帧/秒

实时处理频率*：7fps（全分辨率）*

界面：千兆以太网

尺寸(WxHxL)：55x63x100毫米³

重量：~500克

 

法国Phasics  Kaleo MultiWAVE

 

产品介绍：

 

Phasics正在通过一种能够测量透射和反射波前误差(TWE/RWE)的新仪器在光学计量方面进行创新。镀膜和未镀膜的光学元件在其工作波长下可以超过5.1英寸（130毫米）的直径。KaleoMultiWAVE是购买多个干涉仪的有利替代方案且具有成本效益的解决方案。该系统提供的测量精度可与Fizeau干涉测量法相媲美。

 

产品特点：

 

按需提供任何波长：UV-VISIBLE-NIR-SWIR-MWIR-LWIR

同一个测试台上的多个波长

纳米相位分辨率和大动态（>500条纹）

 

产品参数：

 

配置：双通

测量能力：反射面的测量能力RWE透明光学元件的TWE

每台仪器的波长数：1或2（标准），最多8（定制）

自定义波长：从193nm到14μm的任何波长，包括：UV：266、355、405nm可见光/近红外：550、625、780、940、1050nm短波红外/中波红外/长波红外：1.55、2.0、3.39、10.6µm

清晰光圈：5.1英寸（130毫米）

光束高度：108毫米

对准系统：对准系统实时相位和泽尼克系数显示

极化：与消偏光学兼容

对准视场：+/-2°

瞳孔对焦范围：+/-2.5米

尺寸/重量：910x600x260毫米³，25公斤

隔振：不必要